출원번호 : 10-2017-0101263 (2017.08.09)
등록번호 : 10-19584030000 (2019.03.08)
요약 : 본 발명은 금속 부식 모니터링 시스템에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 복수 개의 파장 대역을 갖는 광을 출력하는 다파장 광원; 상기 다파장 광원으로부터 출력되는 광 중 특정 파장 대역의 광만을 반사시키고 나머지 파장 대역의 광은 투과시키기 위한 복수 개의 광학필터; 상기 광학필터의 사이에 구비되어 상기 광학필터에 의해 반사된 특정 파장 대역의 광이 입력되며, 입력된 광을 부식 측정대상물의 표면으로 조사하기 위한 복수 개의 옵티컬 서큘레이터; 상기 옵티컬 서큘레이터와 부식 측정대상물의 사이에 구비되는 대역통과필터; 상기 대역통과필터와 부식 측정대상물의 사이에 구비되어 상기 부식 측정대상물에 조사되는 광을 평행하게 유지하기 위한 콜리메이터; 및 상기 부식 측정대상물의 표면에서 반사된 반사광의 세기를 측정하여 상기 부식 측정대상물의 표면 부식 정도를 감지하기 위한 디텍터를 포함한다.




