출원번호 : 10-2014-0153067 (2014년11월05일)
등록번호 : 10-1608843 (2016년03월29일)
특허권자 : 한밭대학교 산학협력단
요약 :
본 발명은 개선된 베버의 법칙을 이용한 얼룩 결함 자동 검출 시스템 및 방법에 관한 것으로서, 대상물의 이미지를 취득하는 영상 획득부, 상기 영상 획득부에서 취득한 상기 이미지를 그레이 레벨로 변환하는 영상 처리부 및 상기 영상 처리부에서 변환된 상기 이미지의 이미지 히스토그램에 베버의 법칙을 적용하여 상기 대상물의 얼룩 결함을 자동으로 추출하는 영상 해석부를 포함함으로써, 높은 검출률과 높은 신뢰도를 갖는 얼룩 결함 자동 검출 시스템 및 방법을 제공할 수 있다.
1020140153067




