ＯＬＥＤ 시험 장치 및 방법 OLED TEST APPARATUS AND METHOD

출원번호 : 10-2017-0183477 (2017년12월29일)

등록번호 : 10-2021053 (2019년09월05일)

특허권자 : 배재대학교 산학협력단

요약 :

본 발명의 일 실시예에 따른 OLED 시험 방법은 시험 대상인 광원의 파장대에 대응되는 제1 포토 다이오드, 상기 제1 포토 다이오드와 다른 파장대를 가지는 제2 포토 다이오드 및 제3 포토 다이오드를 준비하는 단계; 상기 제1 내지 제3 포토 다이오드를 이용하여 상기 광원의 조도 변화 및 파장대 변화를 예측하는 단계; 및 상기 조도 변화 및 파장대 변화의 예측 결과에 기초하여 상기 광원의 불량 여부를 테스트하는 단계를 포함한다.

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