면적-효율적인 내결함성을 갖는 선형 피드백 시프트 레지스터와 이를 이용한 오류 검출 방법

출원번호 : 10-2019-0161422 (출원일: 2019-12-06)

등록번호 : 10-2200665 (등록일: 2021-01-05)

특허권자 : 충남대학교산학협력단

요약 : 본 발명은 LFSR(Linear feedback shift register)의 이전 출력 값을 이용하여 추정 패리티를 예측하고, 예측된 추정 패리티와 현재의 LFSR 출력 값에 대한 실제 패리티를 비교하여 오류를 검출함으로써 작은 하드웨어 오버 헤드(Overhead)를 통해 원치 않는 오류를 검출할 수 있는 면적-효율적인 내결함성을 갖는 선형 피드백 시프트 레지스터와 이를 이용한 오류 검출 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 면적-효율적인 내결함성을 갖는 선형 피드백 시프트 레지스터는 LFSR과, 패리티 생성부, 패리티 추정부, 패리티 저장부, 비교부 및 피드백 선택부를 포함할 수 있다. 상기 패리티 생성부는 상기 LFSR의 각 시프트 레지스터에 저장된 신호를 이용하여 순차적으로 패리티 비트를 생성한다. 또한, 상기 패리티 추정부는 LFSR의 출력 이전 상태에서 생성되는 패리티 비트와, 상기 LFSR의 다항식 패리티에 따라 LFSR로부터 출력되는 피드백 신호 또는 0을 이용하여 추정 패리티 비트를 생성한다. 상기 패리티 저장부는 패리티 추정부에서 생성되는 추정 패리티 비트를 저장한다. 또한, 상기 비교부는 LFSR로부터 출력되는 신호를 이용하여 생성되는 실제 패리티 비트와, 상기 추정 패리티 비트를 비교하여 LFSR의 오류를 검출한다.

대표청구항 : 소정수의 비트가 저장되는 적어도 하나의 시프트 레지스터를 포함하고, 선형 피드백을 이용하여 순서화된 상기 비트가 클록의 주기에 따라 시프트 되는 LFSR;상기 시프트 레지스터에 저장된 각 신호를 이용하여 순차적으로 패리티 비트를 생성하는 패리티 생성부;상기 LFSR의 출력 이전 상태에서 생성되는 패리티 비트와, 상기 LFSR의 다항식 패리티에 따라 LFSR로부터 출력되는 피드백 신호 또는 0을 이용하여 추정 패리티 비트를 생성하는 패리티 추정부;상기 패리티 추정부에서 생성되는 추정 패리티 비트를 저장하는 패리티 저장부; 및상기 LFSR로부터 출력되는 신호를 이용하여 생성되는 실제 패리티 비트와, 상기 추정 패리티 비트를 비교하여 LFSR의 오류를 검출하는 비교부를 포함하고,상기 추정 패리티 비트는 i번째 클록 사이클에서 (n-1)번째 시프트 레지스터에 대한 패리티 함수와 피드백 신호에 대한 패리티 함수의 합을 이용하여 산출되는 것을 특징으로 하는 면적-효율적인 내결함성을 갖는 선형 피드백 시프트 레지스터.

상세링크 : http://newsd.wips.co.kr/wipslink/api/dkrdshtm.wips?skey=3521032001619