신소자 성능 테스트 시스템 및 신소자 성능 테스트 방법

출원번호 : 10-2021-0154443 (출원일: 2021-11-11)

등록번호 : 10-2433941 (등록일: 2022-08-16)

특허권자 : 충남대학교산학협력단

요약 : 신소자의 성능을 테스트하기 위해 신소자에 인가할 펄스를 가공하는 펄스 가공부; 및 상기 펄스 가공부에서 가공된 펄스를 집적된 신소자에 전달하는 패스 트랜지스터;를 포함하는 신소자 성능 테스트 시스템이 개시된다. 일 예시에 따르면, 상기 펄스 가공부는, 펄스를 발생시킬 수 있는 펄스 발생부; 상기 펄스 발생부에서 발생한 펄스의 개수를 선택하는 펄스 선택부; 및 상기 펄스 선택부에서 선택된 펄스의 크기를 조절하는 크기 조절부;를 포함할 수 있다.

대표청구항 : 신소자의 성능을 테스트하기 위해 신소자에 인가할 펄스를 가공하는 펄스 가공부; 및상기 펄스 가공부에서 가공된 펄스를 집적된 신소자에 전달하는 패스 트랜지스터;를 포함하되,상기 패스 트랜지스터는 제1 패스 트랜지스터 쌍 및 제2 패스 트랜지스터 쌍을 포함하고, 상기 신소자는 상기 제1 패스 트랜지스터 쌍의 제1 패스 트랜지스터의 소스 및 제2 패스 트랜지스터의 드레인 사이에 연결되고, 또한 상기 신소자는 상기 제2 패스 트랜지스터 쌍의 제3 패스트랜지스터의 드레인 및 제4 패스 트랜지스터의 소스 사이에 연결되며,상기 펄스 가공부의 출력단은 상기 제1 패스 트랜지스터 쌍의 상기 제1 패스 트랜지스터의 드레인 및 상기 제2 패스 트랜지스터 쌍의 제4 패스 트랜지스터의 드레인에 연결되고,상기 제1 패스 트랜지스터 쌍의 제1 패스 트랜지스터 게이트 및 제2 패스 트랜지스터의 게이트에는 제1 논리 신호가 인가되고 상기 제2 패스 트랜지스터 쌍의 상기 제3 패스 트랜지스터의 게이트 및 상기 제4 패스 트랜지스터의 게이트에는 상기 제1 논리 신호와 반대 논리인 제2 논리 신호가 인가되는,신소자 성능 테스트 시스템.

상세링크 : http://newsd.wips.co.kr/wipslink/api/dkrdshtm.wips?skey=3522352001243