출원번호 : 10-2016-0024147 (2016년02월29일)
등록번호 : 10-1681153 (2016년11월24일)
특허권자 : 한밭대학교 산학협력단
요약 :
본 발명에서는 회로의 정상동작 중에 성능 저하를 감지하여 오류를 예측 할 수 있는 모니터링 기법을 제시한다. 모니터링을 위한 별도의 회로를 추가하지 않고 기존의 바운더리 스캔셀과 TAP 제어기를 일부 변경하여 IEEE 1149.1 바운더리 스캔 기반의 향상된 성능을 가지는 회로 성능 모니터링 장치를 개시한다.
1020160024147




