출원번호 : 10-2014-0078479 (2014년06월25일)
등록번호 : 10-1575742 (2015년12월02일)
특허권자 : 배재대학교 산학협력단
요약 :
스테레오 비전에 기반한 암반의 절취면 조사방법을 개시한다.
본 실시예의 일 측면에 의하면, 서로 다른 시점에서 암반의 절취면을 촬영한 한 쌍의 이미지들로부터 상기 암반의 절취면을 조사하는 방법에 있어서, 상기 한 쌍의 이미지들 간에 오버랩되는 영역 내에서 좌측 특징점들 및 우측 특징점들을 탐색하고, 탐색된 좌측 특징점 및 우측 특징점들에 대해 특징점 매칭을 수행하는 제1과정, 상기 한 쌍의 이미지들 중 어느 하나의 이미지에서 상기 사용자에 의해 입력된 선택영역 및 이에 대응되는 다른 하나의 이미지 내의 영역 내에서 좌측 특징점들 및 우측 특징점들을 추가 탐색하고, 추가 탐색된 좌측 특징점들 및 우측 특징점들에 대해 특징점 매칭을 수행하는 제2과정 및 서로 정합하는 상기 좌측 특징점들 및 상기 우측 특징점들의 2차원 좌표를 이용하여 3차원의 특징점들을 계산하는 제3과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 암반의 절취면 조사방법을 제공한다.





